Baza systemu SI zawiera:
b)7 wielkości podst. I 2 uzupełniające. (dł. Czas masa temp. Nat. Prądu światłość, il. Substancji, kąt płaski, kąt bryłowy.)
Błąd pomiaru nie może być równy 0 ponieważ nie moze być spełniony warunek:
a) Wk-Wk-1>0 b)Tak dokładnego wykonania przyządu pomiarowego.
Błąd pomiaru środkowego ∆Ww stosu płytek wzorcowych w systemie tolerowania tzw. Niemieckim oblicza się z zależności: a) ∆Ww = ± (1 x A+B ∑Li x 10-3) um.
Def. Czasowa wzorca (..) Jaka dodatkowa zaleta wynika z tej definicji:
a) pozwala na realizację jednostki metra z dużą dokładnością i jednocześnie definiuje wartość stałej fizycznej jaką jest prędkość światła.
Def. falowa wzorca jedn. Metra mówi że 1m jest długością równą 1 650 763,73(...) Jaka jest dł tej fali i jaką barwę światła emituje?: d) λ=6.0578x10-7 m pomarańczową
Dokładność odczytu wskazań ∆W0 przy pomocy noniusza można wyznaczyć z zależności:
b) ∆W0 = ± a/n.
Dokładnosć odczytu wskazań ∆W przy pomocy spirali Archimedesa moze wynosić:
a)∆W0 = ± 0,2 um lub ± 1,0 um.
Dokładność pomiaru ∆P metodą bezpośrednią dla modelu zdeterminowanego jest równa:
c) ∆P=A+B x W-∆W0.
Dokładność pomiaru ∆P metodą bezpośrednią z odczytem różnicowym dla modelu zdeterminowanego jest równa: d) ∆ P=B x (W-Ws) + 2∆W0.
Dokładność pomiaru ∆P metodą różnicową dla modelu zdeterminowanego jest równa:
a) ∆P=∆Ww+B x WZ+2∆W0.
Grupę pasowań rozruchowych utworzonych wg stałego wałka będą stanowić otwory o symbolach: a) od A do H.
Górny i dolny wymiar graniczny różnicy dwóch wymiarów tolerowanych N1 i N2 jest równy:
c)N1-N2=(N1-N2)G1-F2 i N1-N2=(N1-N2)F1-G2
Górny i dolny wymiar graniczny sumy dwóch wymiarów tolerowanych N1 i N2 jest równy:
c) N1+N2=(N1+N2)G1+G2 i N1+N2=(N1=N2)F1+F2
Ilość informacji I uzyskanej w wyniku pomiaru jest związana z dokładnością:
c) względną δ zależnością I=log2 1/δ.
Jeżeli przyjmiemy że wymiar poprawny powinien znajdować się w przedziale tolerancji T z prawdopodobieństwem P≥ 0,98, to dokładność pomiaru ∆P przyrządu względem tolerancji konstrukcyjnej wymiaru T powinna spełniać warunek (dla klas IT5 do IT12):
d) ∆P ≤ 0,1T.
Jeżeli dokonano pomiaru tej samej wartości z pewnej wielkości dwoma przyrządami o różnej dokładności ∆P1 i ∆P2 (przy czym ∆P1 < ∆P2) i uzyskano wyniki odpowiednio Wi i Wj to obydwa wyniki można uznać za prawidłowe jesli spełniają warunek: (???)
b) (W1-∆P1) = (W2+∆P2)=(W1+∆P1) lub (W1-∆P1) ≤ (W2-∆P2) ≤ (W1+∆P1)
c) (W1+∆P1) ≥ (W2+ ∆P2).
Legalizacja to sprawdzanie, stwierdzenie i poświadczenie przez właściwy organ administracji miar, że przyrząd pomiarowy:
b) spełnia wymagania przepisów metrologicznych.
Luz pasowania maksymalny L określa zależność: d) Lmax=Bq-Aw lub ES-ei
Luz pasowania minimalny L określa zależność: a) Lmin=Aq-Bw lub EI-es
Maksymalna wartość błędu systematycznego określa ogólną zależność ∆Pz=A+BW przy czym współczynniki A i B określają:
b) składnik błędu systematycznie stałego (A) oraz systematycznie zmiennego (B).
Miarą oszacowania niewiadomej wartości poprawnej wyników pomiarów obarczonych błędami przypadkowymi jest: d) wartość średnia x= (1/δ)∑xi.
Mikroskopy odczytowe ze spiralą Archimedesa posiadają noniusze o module ms równym:
d)mN = 0.
Minimalne stopniowanie stosu płytek z kpl. Podstawowego lub większego wynosi:
c) 0,005mm lub 5um.
Moduł noniusza ms można wyznaczyć z zależności: b) mN = (LN+a)/n x a.
Noniusz o module ms =0 posiada długość LN równą: a) LN=-a
Obowiązkowemu uwierzytelnianiu podlegają przyrządy pomiarowe:
a) mające znaczenie dla bezpieczeństwa życia, ochrony zdrowia, ochrony środowiska.
Odhyłka podst. To jedna z dwóch odchyłek przyjęta do określenia położenia tolerancji względem wymiaru nominalnego. Dla otworów od A do H i dla wałków od j do z będzie to odchyłka b) dolna i górna odpowiednio EI i es.
Podstawowym aktem prawnymregulującycm zagadnienia związane z metrologią na terenie RP jest: c) Zarządzenie Prezesa Głównego Urzędu Miar.
Pomiędzy tolerancją sumy Ts i tolerancją różnicy Tr wymiarów tolerowanych zachodzi związek: c) Ts=Tr
Przy doborze narzędzia do pomiaru metodą różnicową należy spełnić warunek:
c) Zakres wskazań podziałki narzędzia musi być > T.
Tolerancja iloczynu dwóch wymiarów tolerowanych N1 i N2 jest równa:
d) N1T2+N2T1+G1G2-F1F2 lub N1T2+N2T1.
Tolerancja technologiczna (max błąd technologiczny) Tw zależy od dokładności ∆P przyrządu jakim będzie sprawdzana poprawnosć wykonania danej operacji technologicznej. Tolerancja ta jest związana z tolerancją konstrukcyjną zależnością: b) Tw=T2-(2∆F).
Tolerancja wykonania średnic ∆dw wałeczków pomiarowych wynosi:
d) ∆dw = ± 0,0005mm lub 0,5 um.
Tolerancję T wymiaruokręsla następująca zależność: b) T=B-A lub T=es(ES)-et(ET)
Uwierzytelnianie to sprawdzanie, stwierdzanie i poświadczenie przez właściwy organ administracji ze przyrząd pomiarowy:
c) spełnia wymagania określone w przepisach, normach i zaleceniach międzynarodowych a jego wskazania zostały odniesione do państwowych wzorców i są z nimi zgodne.
Wałeczki pomiarowe występują w kompletach:
d) po trzy sztuki tego samego wymiaru w zakresie wym. Nominalnych dw=0,170 – 6,3mm.
Wartość działki ekstremalnej a0 można wyznaczyć ze wzoru:
b) a0= pla/2pi lub P/n (???)
Współczynnik B występujący we wzorze ∆Pz=A+BW na dokładność wskazania jest równy:
b) B= (a’-a)/a=(na’-na)/na=(z’-z)/z
W którym z przypadków należałoby zastosować analizę statystyczną wyników pomiarów?:
a) gdy niepowtarzalność wartości wyników pomiarów w serii spełnia warunek Wmax-Wmin≥ 2∆P.
W oznaczeniu symbolicznym wymiaru tolerowanego symbolem literowym od a do z lub A do Z przypisano: d) wartości odchyłek podstawowych.
Wymiar dowolnej wielkości pochodnej x to:
a)Związek wyrażający jej zależność od wybranych wielkości podstawowych p, np. X=∏
Wzorzec jednostki podst. Powinien spełniać nastepujące kryteria:
b)powszechnej dostępności, niezniszczalności, stabilności w czasie i dokł. Przekazywania wartości wzorcom podrzędnym lub przyrządom pomiarowym.
Z definicji Pomiar jest przyporządkowaniem elementowi ai ze zbioru wielkości mierzonej, elementu Wi ze zbioru wielkości wzorcowej. Wyniekiem tego przyporządkowania jest:
d) Wk-1 ≤ ai ≤ Wk.
Z definicji pomiaru Wzór wielkości wzorcowej W jest zbiorem n-elementowym dla którego jest spełniony warunek Wk-WŁ-1>0. Dlaczego zbiór ten nie moze być zbiorem alanogowym:
a) ponieważ byłyby trudności w praktycznej jego realizacji.
szczurozo1902